植物冠層分析系統(tǒng)采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準確和省力、省時、快捷方便的方法。

植物冠層分析系統(tǒng)采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。

測量參數(shù)

葉面積指數(shù)

葉片平均傾角

散射輻射透過率

不同太陽高度角下的直射輻射透過率

不同太陽高度角下的消光系數(shù)

葉面積密度的方位分布

功能特點

非破壞性地測定冠層結構

可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬向接頭自動水平調(diào)整探頭，無需三角架

隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀測和長時間測量，尤其適合完成野外繁重的觀測任務

鏡頭角度：150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經(jīng)常不適合

孔隙測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜和不經(jīng)濟的)

分辨率：768×494pix

測量范圍：天頂角由0°～75°

PAR感應范圍：感應光譜400nm～ 700nm  測量范圍0～2000μmol/㎡•S

分析軟件：植物冠層

顯示和內(nèi)存：決定于筆記本電腦的選擇。

電 源：鋰電池組

傳輸接口：USB

工作溫度：0～55℃